美國 Bruker
光學輪廓儀 - Contour Elite 系列
3D 光學輪廓儀 - 表面量測系統
Contour Elite 系列 - 供生產 QC/QA 及研發使用的非接觸型光學輪廓儀
Contour Elite™ 系列產品結合先進的 64 位、多核心運作及分析軟件、專利的白光干涉儀(WLI)硬件,以及前所未具簡易操作度、為目前所開發最先進的 3D 光學表面輪廓儀。Contour Elite 系列產品中包含有旗艦級 Contour SP、Contour Elite-X、進階級 Contour Elite-I 及入門等級的台式 Contour Elite-K。每款機型可提供多種加工與制造業市場上各種應用範圍 (包括高亮度 LED、太陽能、眼科、半導體及醫療裝置等)。NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供非接觸准確測量。
配 AFM 功能以實現 1 萬倍放大倍數