Nou 美國 Bruker - 光學輪廓儀
美國 Bruker - 光學輪廓儀

美國Bruker公司是世界頂尖原子力顯微鏡，光學輪廓儀，台階儀生產廠家。全球顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存，與多重領域的研究機構。Bruker爲了維持對高科技產品成長的領導地位，持續推出新產品，期望爲顧客提供長期的產品優勢，提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本。
 
Contour X 產品系列 - 三維光學輪廓儀
- 供生產 QC/QA 及研發使用的非接觸型光學輪廓儀
ContourX 光學輪廓儀以最佳的價格為準確和可重複的非接觸式表面計量樹立了新的標竿。這款小尺寸系統採用流線型設計，結合了數十年專有的布魯克白光干涉儀（WLI）創新，可提供 2D / 3D 高解析度測量功能。滿足計量要求的桌上型系統具有業界最先進的友善用戶介面，可直接選用多種預編程濾鏡和分析工具，用於精密加工的表面，薄膜和摩擦學應用分析。新一代增強功能包括新的五百萬像素鏡頭，新的載物台和新的測量模式，提供了更大的靈活性。 ContoutX 光學輪廓儀是一台極有價值的計量設備。

 

快速、可重複的三維計量

• 業界最好 Z 軸分辨率
• 最大尺寸的量測範圍
• 最高穩定性和重複性的集成防震設計

 


卓越的測量和分析功能

• 易於使用的界面，可快速準確地獲得結果
• 最廣泛的濾鏡和分析工具選項，用於粗糙度和關鍵尺寸測量分析
• 滿足包括 ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287 等標準在內的定製化分     析報告
 

應用：

1. 粗糙度 ( 玻璃拋光，油性材料，光阻 / 矽片等 )
2. 翹曲度
3. 曲率 / 坡度
4. 表面形貌比較其他產品的優點： 傳統白光干涉方法採用包絡線內光強最大的位置作爲樣品表面高度。這種方法對信號強度和噪音水平非常敏感，重複性較差。對於樣品表面反射率高存在過飽和的情況甚至不能準確成像。布魯克的白光干涉儀採用專利算法獲得包絡線質心位置作爲樣品表面高度。這種方法除了進一步降低噪音以外，更重要的是即使樣品表面反射信號過飽和也能通過一次成像計算出準確高度信息。

    

             光學玻璃抛光 Ra = 0.17nm                     金屬鋁拋光 Ra = 1.7nm

        

                 金屬表面磨削 Ra = 37nm                    陶瓷表面 Ra = 0.166μm

  

                  凝膠表面 Ra = 2.8μm                   離分子材料表面 Ra = 20.4μm

 

美國 Bruker - 光學輪廓儀

  • 品 牌 Bruker
  • 型 號 Bruker USA - Optical Profilers
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