Nou 美國 Bruker - Dimension Nexus AFM
美國 Bruker - Dimension Nexus AFM

 
美國Bruker公司是世界頂尖原子力顯微鏡，光學輪廓儀，階梯儀生產廠商。全球顧客包括半導體、化合物半導體、資料儲存，與多重領域的研究機構。 Bruker為了維持對高科技產品成長的領先地位，持續推出新產品，期望為顧客提供長期的產品優勢，提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本。

 

 
品牌：Bruker
設備型號 ：Dimension Nexus AFM
 
技術參數：
1.掃描範圍
 - X-Y掃描範圍：90μm×90μm（典型值），最小85μm
 - Z軸掃描範圍：10μm（典型值，成像及力曲線模式），最小9.5μm
2.樣品相容性
 - 樣品尺寸：≤150 mm直徑，≤15 mm厚度，支援150 mm真空吸盤固定
 - 電動樣品台：150 mm×150 mm可偵測區域，雙向重複精度6μm，支援可程式多點測量
3.成像與性能
 - 光學系統：500萬像素數位相機，可視範圍180μm至1465μm，支援數位變焦
 - 雜訊等級：低漂移設計，長時間成像穩定性高，掃描無偽影
4.控制器與模式
 - 控制器：NanoScope 6控制器，支援高速、低雜訊操作
 - 模式支援：PeakForce Tapping、PeakForce QNM、AFM-NDMA、流體成像、環境控制等
5.擴展性
 - 開放硬體/軟體平台：支援BNC連接器、腳本軟體及Python資料導入，滿足客製化分析需求。
6.掃描性能
 - 最小步長：0.01 nm（XYZ軸）
 - 最大掃描速度：100 Hz（256×256像素），支援視訊級成像（需選配高速模組）
7.力曲線功能
 - 力範圍：10 pN至100 nN（經不同探針適配）
 - 力測量精度：±0.1 pN（低力模式）
 - 最大拉伸距離：100μm（長程力曲線模式）
8.電學測量模組
 - 電流靈敏度：1 fA至1μA（支援I-V/P-I曲線）
 - 電壓範圍：±10 V（直流），±10 V@1 MHz（交流）

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
 
設備特點
1. 高性能掃描與影像
 -高速掃描技術：結合閉環控制掃描管和溫度補償感測器，掃描速度可達每秒20幀以上，支援動態過程（如奈米材料變形、生物分子相互作用）的即時觀測
 -亞埃級解析度：Z軸雜訊水準低於30pm，XY軸解析度達埃級，適用於原子級表面形貌分析
2. 智慧化操作與多模式擴展
 -智慧進針系統：配備自動雷射對準和探針校準功能，簡化操作流程，降低人為誤差
 -多模式相容性：支援力學（如PeakForce QNM）、電學（導電AFM）、熱力學（掃描熱顯微鏡）等模組擴展，滿足複雜樣品分析需求
3.環境適應性與穩定性
 -動態環境控制：可在空氣、液體、溫控（-35℃至250℃）環境中工作，適用於活細胞觀測或高溫材料研究
 -抗干擾設計：採用閉迴路掃描器和低熱漂移率（<200 pm/分鐘），確保長時間實驗的影像穩定性
擴充功能模組
1.原位電化學模組
 - 支援液池環境下的AFM-SECM（掃描電化學顯微鏡）聯用，即時監測電極表面的電化學反應過程
2.力譜增強技術
 -PeakForce Tapping+模式：在敲擊模式下同步取得形貌、相位、黏附力、模量等8種參數
3.高通量篩選平台
 - 配合自動進樣器（選購），實現24小時無人值守的多樣品連續分析，適合材料庫篩選
應用領域
1.材料科學
 - 奈米材料表徵：石墨烯、莫爾超晶格等二維材料的奈米級結構分析
 - 聚合物與複合材料：奈米力學性質（如彈性模量、黏附力）的映射及多相分佈研究
 - 半導體產業：半導體薄膜與基板的表面粗糙度量化及奈米元件的電特性表徵
2.能源研究
 - 鋰離子電池：原位和 operando 研究局部電化學活性
 - 鈣鈦礦材料：光電元件中結構與鐵電性質的關聯分析
3.生物與奈米技術
 - DNA奈米線：奈米電子裝置中電學特性的操控與表徵
 - 生物樣品：大氣或液體環境下生物分子的形貌與力學特性分析（需搭配相應製樣技術）
4.工業與品質控制
 - 微納製造：高精度結構（如360溝槽陣列）的尺寸測量與製程驗證
 - 表面工程：塗層、薄膜的均勻性與奈米結構分析
 
  

 

型號對比：   Dimension Nexus  VS  Dimension Icon
 
技術參數對比

 

Dimension Nexus

Dimension Icon

樣品尺寸(XY)

150 mm

300 mm

電動台范圍

150  mmx150  mm

150  mmx180  mm

小樣品&多樣品功能

Yes

Yes

樣品靈活性

Tip Scanner

Tip Scanner

XY掃描量程

90 μmx90μm

90 μmx90 μm

設備尺寸 (WxL)

24"x32(plus customer desk/workstation)

47"×94"(including integrated workstation)

控制器

NanoScope 6

NanoScope 6

编程功能

Yes

Yes

自動化

No

Yes

開放平台

High degree of flexibility for customization

Maximum flexibility for customization
測量能力對比

 

Dimension Nexus

Dimension Icon

高配分辨率

Atomic lattice resolution

Atomic defect resolution

高速成像

Fast Tapping

FastScan dedicated high-speed AFM;Fast Tapping

PeakForce Tapping

Yes

Yes

ScanAsyst (Self-Optimizing Imaging)

Yes

Yes

PeakForce Tapping Derivative Modes*

Yes

Yes

Chemical ldentification Capablity

No

lconiR upgradable

高光譜成像

DataCube

DataCube

Other Modes&Options*

Wide range to address majority of
 applications

Complete range for industry-leading application
coverage
 
 

 

 

 

美國 Bruker - Dimension Nexus AFM

  • 品 牌 Bruker
  • 型 號 Bruker USA - Dimension Nexus AFM
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