後道- 量測儀器
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排序方式
G3 半自動 BGA 除球機
用於實驗室測試和研發目的的樣品解決方案
特徵:
• 切割刀片上確..
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Nou
X 射線衍射 (XRD)
D8 DISCOVER 系列
D8 DISCOVER系列是市面上最准確、功能最強大和最靈活的X射線衍射解決方案。從典型的粉末衍射到..
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美國 Bruker
探針輪廓儀
從傳統的二維表面粗糙度和台階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄..
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TriboLab CMP 模組測試儀 (Chemical Mechanical Polishing)
• CMP 設備減少動員特殊傳感器技..
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美國 Bruker
X 射線熒光光譜(XRF)分析 - S2 PUMA Serie..
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美國 Bruker
光學輪廓儀 - Contour Elite 系列
3D 光學輪廓儀 - 表面量測系統
Co..
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美國 Bruker
AFM - 原子力顯微鏡
Dimension FASTS..
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美國 Bruker
自動化台式納米機械和摩擦測試系統
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美國 Bruker
超高分辨率顯微鏡
Vutara 350 超高分辨率顯微鏡
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LTB210 可焊性測試儀 - 全自動化電腦控制
測試方法和選項 :
• 焊浴測試具有自動刮刀與糟粕斌
• ..
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Nou
Akrometrix於1994年成立於美國佐治亞州亞特蘭大, 全球著名的平整度特性測量與分析技術先鋒。 提供全面測量解決方..
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