繁體
簡體
Eng

Teltec - SE Asia
Teltec-HongKong

半導體器材專家

首頁 +
關於我們 +
產品中心

半導體後道封測制程

高分辨率X射線檢測設備

熱變形外貌檢測儀

熱風對流回流焊爐

壓力固化爐

光學輪廓儀

臺階儀

原子力顯微鏡 (AFM)

傅氏轉換紅外光譜分析儀(FTIR)

X射線熒光光譜分析儀(XRF)

x射線衍射分析儀(XRD)

納米壓痕/納米力學測試/
摩擦磨損測試/機械性能測試

TriboLab CMP 材料測試儀

自動光學檢測AOI系統

芯片拾取放置系統

推拉力測試儀

離心機

裂縫測試儀

自動晶圓貼標機

矽材料/矽產品/半導體專用膠帶

等離子及化學開封機

自動塑封開封機

高分辨率脈沖時域反射計 (TDR)/透射計(TDT)

自動晶圓光學檢測
(Wafer AOI)系統

除錫球機

晶圓原位對準鍵合機

應力及厚度在線量測系統

恒溫恒濕箱/HAST

晶圓/基板/光罩清洗機

光阻顯影機/蝕刻剝離機/
光阻剝離機

濕法蝕刻設備

紫外臭氧清洗機

紫外線擦除器

可焊性測試儀

高低溫沖擊測試

矽材料/矽產品/半導體專用膠帶

矽材料/矽產品/半導體專用膠帶

矽材料/矽產品/半導體專用膠帶

半導體前道晶圓制程

光刻膠

光刻膠幹膜

自動晶圓光學檢測
(Wafer AOI)系統

光學輪廓儀

臺階儀

原子力顯微鏡 (AFM)

傅氏轉換紅外光譜分析儀(FTIR)

X射線熒光光譜分析儀(XRF)

x射線衍射分析儀(XRD)

納米壓痕/納米力學測試/
摩擦磨損測試/機械性能測試

TriboLab CMP 材料測試儀

磁控濺射機/熱蒸鍍

等離子體線性離子束專利

熱變形外貌檢測儀

晶圓原位對準鍵合機

光刻膠幹膜

晶圓/基板/光罩清洗機

光阻顯影機/蝕刻剝離機/
光阻剝離機

紫外臭氧清洗機

紫外線擦除器

噴墨塗布機

應力及厚度在線量測系統

芯片拾取放置系統

納米壓印機

光功率計儀

曝光機

自動晶圓貼標機

濕法蝕刻設備

黃光塗佈顯影設備

曝光機

光學光電子

蒸/濺鍍系統

銦沈積

太陽光模擬器

PV IV測試系統

QE測試系統

信號發生器 (延遲/脈沖發生器)

頻譜分析儀

信號模塊

角分辨光譜儀

共焦顯微拉曼光譜儀

超表面光場檢測系統

拉曼光譜儀/ 物質識別儀

光致/電致發光量子效率
測試系統

太赫茲光譜/成像系統

激光功率器/ 能量檢測器

激光光束診斷

高功率檢測器/衍射光學器件

光學輪廓儀

臺階儀

原子力顯微鏡
(AFM & AFM IR)

傅氏轉換紅外光譜分析儀(FTIR)

X射線熒光光譜分析儀(XRF)

x射線衍射分析儀(XRD)

納米壓痕/納米力學測試/
摩擦磨損測試/機械性能測試

TriboLab CMP 材料測試儀

活體多光子顯微鏡

超高分辨率顯微鏡

激光共聚焦顯微鏡

光電探測器

光學/光電濾光片

中階梯光譜儀

+
應用領域 +
最新消息 +
獎項 +
展會資訊 +
人才招募 +
聯絡我們 +

首頁
品牌
Xinsheng

Xinsheng

Xinsheng

顯示

排序方式

Nou

芯笙半導體 - 自動塑封機

XinSheng 自動塑封機 STM-120 產..

$0.00

查詢

顯示開始 1 到 1 之 1 （總 1 頁）

亞太國際電子器材股份有限公司
香港電子器材有限公司台灣分公司

關於我們

關於我們

產品中心

半導體後道封測制程
半導體前道晶圓制程
光學光電子

應用領域

應用領域

最新消息

獎項

展會資訊

展會資訊

招賢納士

聯絡我們

聯絡我們

版權所有 © teltec.asia